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RM能夠在UV-VIS-NIR光譜范圍對(duì)單層膜、多層膜和基底材料進(jìn)行高精度反射光譜測(cè)量。可對(duì)吸收或透明基底上的透明或弱吸收薄膜分析厚度和折射率
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