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多波長橢偏儀 Multi-wave Ellipsometer

FS 多波長橢偏儀

  1. 產(chǎn)品說明
  2. 選配件
  3. 詳情咨詢

Innovative˙Powerful˙Affordable

設(shè)計創(chuàng)新˙功能強大˙經(jīng)濟實惠

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Film Sense FS-1™ 多波長橢偏儀采用壽命長LED光源和非移動式部件橢偏探測器,可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實現(xiàn)快速和可靠地薄膜測量。

大多數(shù)厚度0–1000 nm的透明薄膜只需要簡單的1秒測量,就可以獲得非常精密和準確的數(shù)據(jù)。還可以測量大多數(shù)樣品的光學常數(shù)和其他薄膜特性。

FS-1這款功能強大的多波長橢偏儀,售價只是單一波長橢偏儀和光譜橢偏儀的中等水平。FS-1可應(yīng)用于研究實驗室,超凈間,原位工藝腔體以及工業(yè)質(zhì)量控制等諸多領(lǐng)域

 

主要特點

4LED光源:藍色(465nm),綠色(525nm),黃色(580nm),紅色(635nm

橢偏儀探測器中無可移動部件

卓越的膜厚精密性,大多數(shù)樣品精密度優(yōu)于0.001nm1秒獲取數(shù)據(jù)),對于亞單原子薄膜精密度等于0.001nm

集成計算機,可實現(xiàn)對設(shè)備控制和數(shù)據(jù)分析,自帶瀏覽器界面,可兼容任何現(xiàn)代計算機,筆記本或平板電腦

 


在線測量功能

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自動Mapping系統(tǒng)

FS-1™多波長橢偏儀,帶緊湊自動mapping樣品臺,可以實現(xiàn)快速,準確和可靠的薄膜均勻性測量。

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軟件控制

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選配件

聚焦光束選件

樣品上光束尺寸減小到 0.8 x 1.9 mm或0.3 x 0.7 mm

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聚焦光束檢測

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聚焦光束檢測系統(tǒng)包括一個FS-1多波長橢偏儀,帶光束聚焦光學器件和一個手動位移臺。該系統(tǒng)非常適合用于手動檢測和在圖案化半導體晶圓上進行質(zhì)量控制測量??蛇M行科研測量,帶小尺寸光斑和相機成像功能手動位移臺,可容納4’,5’,6’晶圓樣品上光束尺寸0.3 x 0.7 mm樣品上光束位置視頻圖像

 

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